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繪過程重要經常使用到涂層測厚儀
來源：www.txmcu.com.cn | 發布時間：2024年12月18日1、在同一點重復測量時，每次將探頭離開10cm以上，間隔幾秒鐘后進行測量，避免探頭磁化后被測材料影響下一次測量結果；
2、使用時，平面調零測平面，凸面調零測凸面，凹面調零測凹面，避免因結構不同而產生測量誤差；
3、盡量使用被測材料作為調零基體，避免因不同材料導磁性不同而產生測量誤差；
5、零表面應盡可能光滑；被測材料表面的粗糙度對測量值影響很大。如果表面不光滑，應根據情況取平均值；
6、在測量過程中，探頭應與被測表面保持垂直，否則會產生較大的誤差。
一些測量的材料也有剩余的磁場。而且容易分布不均勻，導致測量誤差不同，這在使用涂層測厚儀時也需要注意。
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